椭圆偏振测量相关论文
为了降低红外探测技术对军事目标生存能力的威胁,研制了红外低辐射膜.设计并制备了基于一维光子晶体结构的红外低辐射膜,通过结构......
随着薄膜材料和制造技术的不断发展,如何准确、快速地对纳米级薄膜的光学常数、厚度的表征受到了人们的广泛关注。椭圆偏振测量是......
为支撑复杂应力环境下大功率电力电子装备绝缘可靠设计与状态评估,该文提出一种基于弹光效应的固体电介质空间电荷光学测量方法,并......
本文使用WVASE32型椭偏仪,主要针对Si基单层有机薄膜的测量方法进行分析;对PMMA材料和氟化聚酯材料进行测量,根据测量结果对AWG器......
本文分析了最常见的影响旋转检偏器式椭偏仪准确度的两个因素.提出了改进的测量方法和测量结果的修正公式,提高了测量准确度并为实......
本文给出了两种测量双轴晶衬底上双轴晶单晶膜的折射率和膜厚的方法及测量的公式.我们利用这种方法测量了所研制的KTP光波导薄膜层......
提出了一种利用椭圆偏振测量进行纳米薄膜参数数据处理的混合优化算法。以人工神经网络模型为基础,利用改进粒子群算法选择人工神......
椭圆偏振测量技术的本质是测量光束从被测材料反射或者透射前后偏振状态的改变。这种偏振状态的变化量通过幅值比ψ和相位差△来表......
本文从解决生物组织折射率问题的角度出发,采用表面等离子体共振(SPR)术以及椭圆偏振术研究了生物组织折射率的实验测量问题。 将......
该文共分为五个部分:首先,我们对测量薄膜的各种方法作了大致介绍,给出椭偏术作为一种被广泛采用的强有力的测试手段的原因;并以椭......
椭圆偏振测量术是一种测量和研究材料表面及其膜层光学特性的先进方法,具有测量精度高、快速和非接触等优点,在物理学、化学、材料及......
椭圆偏振测量技术是通过偏振光入射到待测薄膜表面反射或透射后偏振状态的变化来测量薄膜的厚度和折射率,具有测量精度高和非接触......
本工作主要研究了二氧化钛薄膜的制备手段、薄膜光学性质的椭圆偏振测量方法和薄膜生物活性的影响因素。内容和结论主要包括:1.采......
应用空心阴极离子镀膜技术,制备了纯铬薄膜样品,样品可在不同的测量和时间下进行退火处理。同时庆用椭圆偏振测量术的多角入射法对Cr薄......
简略介绍了椭偏仪的测量原理和测量装置。分析了Hg1-xCdxTe(MCT)的组分与椭偏仪的参数Δ和ψ之间的关系,结果发现碲镉汞的组分x主要......
文章通过对椭偏仪测量原理的分析给出了四区平均消光状态下的计算公式,利用该公式计算在一个周期内的薄膜厚度和折射率结果较好;同......
用椭圆偏振法研究了2.5 MeV B离子注入后的铌酸锂晶体,建立四层模型,对反射式椭圆偏振测量得出的数据进行反演拟合,得到了波导层厚......