内建自测试技术相关论文
目前,系统芯片(SoC)的设计是由嵌入式IP核组成。其中,嵌入式IP核包含有数字IP核、模拟IP核及数模混合IP核。在数模混合IP核中不仅......
由被测电路自己施加测试向量(TVAC)的内建自测试技术把被测电路视为一种可利用的资源，但因为使用多路开关、计数器、译码器等测......
随着纳米技术的发展，以及IC设计和制造业技术的快速发展，高密度、高速、ASIC、SOC等新型芯片的不断涌现。基于传统的探针测试已经不......
随着集成电路技术的不断发展,为了提高测试质量并降低测试成本,各种可测性设计方法得到了广发应用。其中,内建自测试(Built-in Sel......
通过对车载测图仪进行故障自动测试设计 ,使其故障诊断效果更加明显 ,维修性得到增强 ,可用度得到提高。......
本文分析了内建自测试技术（ＢＩＳＴ）的测试产生和响应压缩的各种方法和结构，并提出了适用于层次化自测试结构的ＢＩＳＴ测试产生和响应压缩方法。......
讨论了软硬件测试的一致性,列举了软硬件测试中相似的测试方法,最后基于一致性的概念并借助硬件可测性设计BIST(build-in-self-tes......
本文分析了内建自测试技术(BIST)的测试产生和响应压缩的各种方法和结构,并提出了适用于层次化自测试结构的BIST测试产生和响应压......
论述了软件内建自测试项目中"模板"模块的设计方法.利用硬件测试中所使用的基准电路的思想,研究并开发了一种基准程序.使用这种基......
