几何相位分析相关论文
本文使用高分辨透射电子显微镜研究了喷射成形A112Zn2.4Mg1.1Cu合金不同时效时间析出的GP Ⅱ区和η 亚稳析出相，并结合几何相位分析......
会议
微裂纹是固体材料中一种非常重要的微观缺陷，它在固体的强度、断裂以及其他结构敏感性问题中起着关键作用。对单晶硅裂纹扩展过程及......
以2000 目TEM 样品用方孔铜载网为模板，采用离子溅射沉积技术在多晶Mo 片表面成功制作了微米尺度的周期性网格；对多晶Mo 片试样进行......
随着电子显微技术的发展,电子显微图像的真实度和清晰度越来越高。同时,纳观力学分析方法,即纳米级分辨率的实验测量技术,对材料体......
由硅与锗的晶格参数不匹配能制作大大提高电子迁移率的应变硅；但是同时，由于失配能的积累会在二者界面产生失配位错或其他缺陷。......
本文对不同离焦条件普通200 kV LaB6灯丝电镜(点分辨本领0.194 nm)A1Sb/GaAs(001)界面(样品厚度为0.4 nm)高分辨模拟像，进行解......
为定量测试喷射沉积合金GP区周围的晶格应变的分布,利用喷射成形技术制备了Al12Zn2.4Mg1.1Cu合金。随后对合金进行热挤压、758K固......
介绍了几何相位分析(geometric phase analysis，GPA)的基本算法，并用Digitalmicrogragh中的Script语言实现了此算法。基于高分辨像的......
本论文分两部分。
第一部分,利用高分辨电子显微术和几何相位分析(Geometric PhaseAnalysis,GPA)研究了A1Sb/GaAs异质结界面......
本文利用高分辨透射电子显微技术及高分辨像几何相位分析技术,对分子束外延方法生长在GaSb(001)面上的InAs/GaSbⅡ型超晶格材料进......
利用高分辨透射电子显微镜(HRTEM)和选区电子衍射(SAED)观察了Al-12Zn-2.4Mg-1.1Cu-0.5Ni-0.2Zr合金中的Al3Zr-η′核壳颗粒。结果......
本文使用高分辨透射电镜（HRTEM）成像和几何相位分析,研究不同溅射气压制备的铌薄膜/硅基体的界面微观结构和应变状态。研究结果表明：......
高分辨透射电子显微镜已经成为测试精度最高的纳米尺度测量工具，目前常用的中等电压透射电子显微镜的分辨率可以达到0.1nm，为纳......
对多晶金中纳米级晶粒间的小角度晶界应变场进行了实验研究。实验结果显示该晶界由不规律排列的离散位错组成。通过结合高分辨透射......
研究了砷化镓/砷化铝镓（GaAs/AlGaAs）核壳结构纳米线中量子结构的微结构和应力应变分布.本文使用分子束外延法制备了GaAs/AlGaAs纳米......
用高分辨电子显微成像和几何相位分析,研究不同溅射气压下制备的铌薄膜/硅基体的界面微观结构和应变状态。结果表明:铌薄膜表面由......
本文利用高分辨透射电子显微技术及高分辨像几何相位分析技术，对分子束外延方法生长在GaSb（001）面上的InAs／GaSb11型超晶格材料进行了......
