加固锁存器相关论文
针对单粒子翻转(SEU)的问题,提出了一种容SEU的新型自恢复锁存器。采用1P-2N单元、输入分离的钟控反相器以及C单元,使得锁存器对SE......
随着集成电路工艺水平的提高,软错误逐渐成为影响电路可靠性的主要因素.针对这种情况,提出了一种低开销的SEU锁存器加固结构.该结......
随着工艺尺寸的缩减,单粒子引发的软错误成为威胁电路可靠性的重要原因.基于SMIC 65 nm CMOS工艺,提出一种单粒子加固锁存器设计.......
随着集成电路工艺的飞速发展,电路内部节点对于高能粒子入射的敏感性急速增大,锁存器中辐射效应引起的软错误急剧增多.进入90 nm工......
为了能够容忍单粒子多节点翻转，提出了一种新颖的三模互锁加固锁存器。该锁存器使用具有过滤功能的代码字状态保存单元（CWSP）构成三模......
提出一种新型高性能容错结构设计,以解决多节点问题造成的锁存逻辑错误.通过对多节点翻转可容忍锁存器结构的改进,弥补多节点翻转......
集成电路产业是信息技术产业的基础和核心,也是国家关注的战略性产业。随着半导体技术的飞跃式进步,集成电路的性能在不断提高的同......
文章提出了一种新型的锁存器,采用双模冗余容错技术,能够同时容忍单粒子单节点翻转和单粒子双节点翻转。相比于同类型的加固设计,......
在集成电路制造水平不断发展的当下,芯片的集成度越来越高,工作频率越来越快,工作电压和晶体管的阈值电压不断降低,晶体管尺寸也在......
集成电路产业是信息技术产业的核心,也是国家的战略性产业。随着半导体技术的发展,集成电路在性能提高的同时,所面临的可靠性问题......
随着半导体制造工艺的不断进步,集成电路在不断提升性能和降低功耗的同时,其可靠性也面临了严重威胁。工艺节点的持续下降,使集成......
为了降低集成电路的软错误率,该文基于时间冗余的方法提出一种低功耗容忍软错误锁存器。该锁存器不但可以过滤上游组合逻辑传播过......
