随着信息化时代正在高速发展,电子设备的市场需求量不断攀升。集成电路(Integrated Circuit,IC)作为电子设备的核心,需求量也在与......

集成电路产业近年来的迅猛发展,使得电路中的数据量急剧增加,而芯片的规模尺寸却日益缩小,这对芯片的智能性和兼容性都提出了挑战,......

提出一种相对游程长度编码方案,以在不增加待编码数据中游程数量的情况下,达到减少待编码游程长度的目的,即通过缩短代码字长度来......

传统的测试数据压缩方法对游程长度直接进行编码,编码受到原始测试数据游程长度的限制,因此提出一种改进型相对游程长度的编码方式......

针对芯片测试过程中自动测试设备需要传输大量测试数据到被测芯片,浪费了大量的测试数据传输时间的问题,提出一种广义折叠技术的集......

随着系统芯片(System-on-a-Chip,SoC)技术的发展,芯片的集成度和复杂性迅速提高,相应地,大规模集成电路测试所需要的测试数据也随......

随着集成在硅胶片上的知识产权核(Intellectual Property Core,IP)越来越多,集成电路芯片测试所遇到的故障将会变得更复杂,测试所......

随着系统芯片(System-on-a-chip, SoC)技术的发展,单个芯片上集成的(Intellectual Property Core)IP核越来越多,芯片功能和复杂度......

针对传统的测试数据压缩方法较为复杂,且不能有效减少测试数据量、降低测试成本的情况,本文提出一种基于二分法的测试数据压缩方案......