本实验利用101 MeV和59 MeV的16O轰击197Au靶对实验中的硅条探测器位置进行了刻度.利用反应产生的准弹散射粒子16O得到在两个能量......

介绍一种前端读出专用集成电路（ASIC，Application—Specific Integrated Circuit）芯片性能测试系统的电路设计与实现。该ASIC芯片可用......