用于揭示晶体材料微区结构与取向(差)的电子背散射衍射(EBSD Electron-Back-Scattering-Diffraction)技术于上世纪90年代初成功地......

用RHEED(反射高能电子衍射)方法研究了碲镉汞晶体的机械损伤。结合逐次剥层方法,测定其损伤深度约为400～500微米。 The mechanical......

EBSD(电子背散射衍射)分析是通过扫描电镜中电子束在倾斜样品表面激发出并形成的衍射菊池带的分析从而确定晶体结构、取向的方法。......

本论文采用FEI XL-30型环境扫描电镜与HKL公司电子背散射衍射仪构成的分析系统进行多种材料的实验研究。对EBSD菊池衍射花样的收集......