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本文提出了一种新的寄存器分配算法，该算法基于ILP原理，在测试功耗约束条件下进行建模，对设计空间进行全局寻优，得到电路RTL结构的同时也得到符合约束条件的BIST设计。在基准电路上的实验结果表明：与其它BIST测试综合方法相比较，采用本论文所提方法进行测试综合对测试资源占用最多可降低50.7％。