SiC MOSFETs、IGBT和晶闸管的研究进展

来源 :第一届全国宽禁带半导体学术及应用技术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:shayuer
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介绍国际上SiC MOSFETs、SiC IGBT和SiC晶闸管器件的研究和产业化最新进展,将重点介绍本实验室在SiC开关器件方面的研究成果,讨论相关器件的技术难点、面临的问题以及应用前景.
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高质量、高In组分InGaN/GaN量子阱生长是实现长波长发光器件的关键问题.由于InGaN与GaN材料的最佳生长温度不同,如果GaN垒层采用较低的温度生长,会造成量子阱区晶体质量变差,降低发光效率.目前,GaN垒层通常采用较高温度生长,然而这会使InGaN阱层在升温的过程中发生分解,降低量子阱层的h组分.在量子阱生长完后生长一层低温GaN保护层(LT-cap),研究其厚度对量子阱In组分及量子阱
当前,AlGaN基紫外LED正成为世界各大公司(飞利浦、韩国LG等)和研究机构新的研究焦点之一.国内目前关于紫外LED的研究工作属于起步发展阶段,仍存在紫外发光功率低、可靠性差、寿命较低等许多问题亟需解决.本文中,主要通过MOCVD技术,研究和优化高Al组分AlGaN薄膜生长参数、掺杂工艺、量子阱结构设计与生长,获得了紫外LED外延结构材料,制备出了紫外LED倒装结构芯片,并且开展了基于紫外UVL
GaN基紫外光源是目前替代汞激发光源的唯一固态光源解决方案,近年来UVLED市场份额逐年递增,在紫外固化、杀菌净化、生化检测等领域具有重大应用价值,是目前半导体照明领域新的研究热点和产业化竞争的重点.AlGaN深紫外光源主要受限于p型掺杂的困难导致的极低空穴注入效率,以及p型GaN接触层的吸收导致的极低光提取效率。一种可行的解决方案是采用电子束泵浦紫外光源,其结构无需电子/空穴注入层和电子阻挡层,
GaN紫外探测器可以用于诸多军用和民用领域,比如紫外制导,紫外预警,火灾监测,大气环境监测等.很多应用场合需要紫外探测器能够检测极微弱信号.雪崩效应为GaN探测器检测极微弱信号提供了可能.雪崩探测器(APD)可以工作在线性模式和盖革模式两种模式下,线性模式的雪崩探测器可以工作在恒定伺服电压下,盖革模式的雪崩探测器需要工作在特定的周期性淬火电路中.目前盖革模式下的GaN基APD增益可以做到104以上
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This paper investigates the factors affecting current spreading in different mesa-structure LEDs by deriving the theoretical expressions and simulation.Current spreading is an important issue in many
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本文研究了GaN基蓝光激光器的退化机制.通过对激光器老化前后光电特性测试分析,发现GaN基蓝光激光器老化过程中光输出功率随时间增加下降、阈值增加、斜率效率下降;通过微区光致发光谱(PL)测量,发现老化后激光器有源区发光减弱;利用变温PL技术研究发现导致激光器有源区退化的主要原因是点缺陷的增加.初步研究结果表明,与有源区点缺陷相关的非辐射复合增强是目前激光器退化的主要原因.
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