T/R组件是相控阵雷达的基础和核心部件,随着雷达技术的发展,T/R组件呈现出多通道、高频段、高性能的特点,同时也对T/R组件的测试提出了新的挑战。为解决T/R组件测试的难题,高性能T/R阵列自动测试系统的研发显得愈发重要。T/R阵列测试系统为实现自动测试的目的,不可避免的会引入连接线缆、转接夹具和矩阵开关等复杂的嵌入网络,其严重影响了测试系统的去嵌入精度;此外,当系统测试对象为多通道、多组件时,测量前需进行大量测试通道的校准,极大降低了T/R阵列自动测试系统的去嵌入效率。目前工程中主要采用基于端口延伸的校准方式,如SOLT校准,把嵌入网络当作矢量网络分析仪的系统误差消除。以本文针对的T/R阵列自动测试系统为对象,采用传统的校准方案,幅度校准绝对误差接近0.2d B,相位绝对误差大于3°,驻波比绝对误差大于0.15;其次,系统大规模测试通道的校准,耗时超过90分钟,且极易出错和引入重复性误差。本文针对T/R阵列自动测试系统去嵌入精度和去嵌入效率两个关键问题,进行系统去嵌入技术研究。首先提出了矢网自校准+基于TRL标准件的嵌入网络参数提取的系统去嵌入方案。设计和实现了TRL标准件模块与去嵌入算法,测试系统验证结果表明:幅度去嵌入绝对误差小于0.11d B,相位绝对误差接近2.2°,驻波比绝对误差小于0.10。此外,可同时采用多个盲拔插TRL模块,一次接入,完成多个测试通道去嵌入,系统去嵌入时间可压缩在30分钟内。在此基础上,为进一步提升去嵌入效率和实现系统自动在线去嵌入功能,研究了基于USOM的在线去嵌入技术。设计的USOM模块和去嵌入算法在系统中验证,结果表明:幅度去嵌入绝对误差小于0.151d B,相位绝对误差接近2.8°,驻波比绝对误差小于0.122。后期可以将该模块集成在矩阵开关输出末端,除去初次需人为操作,再次去嵌入时可以自动完成。接着,为减小测试系统去嵌入过程对标准件的依赖程度以及对标准件的设计精度的要求,研究了基于遗传算法的系统去嵌入方案,其仅基于直通测试数据。该方法系统验证结果表明:幅度去嵌入绝对误差小于0.149d B,相位绝对误差接近3.9°,驻波比误差小于0.156。在研究测试系统去嵌入技术基础上,本文对测试系统不确定度进行了全面分析。识别和计算出T/R阵列自动测试系统的各个分量不确定度,并推导出测试系统合成不确定度的评估结果。