角度测量在科学研究、计量科学和工业生产等领域都是非常重要的测试内容。随着科学技术的不断发展和进步，对角度的精密测量提出了越来越高的要求。　　本论文以实验室的磁光调制实验装置为研究对象，重点对基于偏振理论的角度精密测量方法进行研究。针对该实验装置在实验过程中存在的二倍频信号非常微弱、信噪比低，学生难于调试以及难于实现精确偏差角度测量的缺点，我们对实验装置进行了完善和改进。一方面可以提高实验效果，另一方面也为开展相关领域的工程应用提供实验条件。　　本研究在深入分析磁光效应理论的基础上，设计了一套以高可靠性ADuC831单片机为主控芯片的偏差角度测量系统，该系统实现了偏差角度的精确测量。系统按照测量精度的不同要求，把偏差角度测量分成两个模块进行设计。其中绝对值在1°以内的角度称为小偏差角度，其测量精度要求较高，主要采用取样积分技术，提取光电转换后的二倍频信号的两个极值，再由高精度A/D转换芯片完成对微小角度正负信号的采集，并按线性算法计算出偏差角度值。偏差角度绝对值大于1°是大偏差角度测量，测量精度通常要求较低。其测量方法是将光电转换后的光强信号滤波稳压为直流电压信号后，由单片机内部的A/D进行采集，再由相应的算法完成偏差角度值的计算。上述角度测量结果均由串行通信总线输出到计算机。　　实际调试和实验数据表明，本系统的设计方法正确，系统工作稳定可靠，测量精度较高，不仅有助于学生快速、准确地完成实验，同时对工程应用具有一定的参考价值。