综合孔径辐射计利用稀疏的小口径天线阵列合成一个等效的大口径,具有重量轻、无需机械扫描即可瞬时成像的优势。但随着综合孔径技术走向实际应用,综合孔径辐射计中存在的一些问题就逐渐显露出来。为满足较高的空间分辨率,星载综合孔径辐射计的天线与相关器数目过多,导致系统的复杂度大大增加。为减小系统结构与信号处理的复杂度,华中科技大学提出了镜像综合孔径的概念。与常规综合孔径辐射计相比,镜像综合孔径辐射计能利用较少的天线单元实现相同的空间分辨率。然而,镜像综合孔径辐射计的良好成像性能需建立在理想硬件条件的基础上,实际系统中往往存在各种误差,导致重建亮温图像质量下降,甚至失真。因此,对误差进行建模与校正是镜像综合孔径获取高质量重建亮温图像的关键。本文首先分析了一维镜像综合孔径与二维镜像综合孔径中存在的误差。将误差按来源分类为:反射板误差、通道误差与天线误差,对上述的不同误差进行误差建模仿真,分析不同误差对重建亮温图像的影响。将误差按对相关输出的作用形式分类为:方位无关的乘性误差、方位有关的乘性误差、固定偏移加性误差与随机偏移加性误差。其中,方位无关的乘性误差与固定偏移加性误差是镜像综合孔径中的主要误差。然后利用单点源校正法与场景对消校正法校正镜像综合孔径中的主要误差。本文给出了两种校正方法的理论推导与仿真分析,并在华中科技大学自主研制的一台镜像综合孔径辐射成像实验系统MAS-V(Mirrored Aperture Synthesis at the V band)上进行实验。仿真及实验结果表明:单点源校正法与场景对消校正法能有效提升重建亮温图像的质量。