研究目的:　　本课题研究一种新型通用型牙本质粘结剂(All Bond Universal，ABU)的粘结强度以及其对树脂-牙本质粘结界面微渗漏和纳米渗漏的影响，同时与目前临床上常用的全酸蚀粘结剂(Prime& Bond NT，PBN)和一步法自酸蚀粘结剂(G Bond，GB)做对比，为临床选择合适的粘结剂提供参考依据。　　材料和方法:　　研究分为两部分:　　第一部分:测试这种新型通用粘结剂在全酸蚀和自酸蚀两种方法下对牙本质的粘结强度。选取人体12颗无龋坏第三磨牙，随机分为4组，A、B组分别用全酸蚀法和一步自酸蚀法使用All Bond Universal粘结剂，C组用全酸蚀粘结剂Prime& Bond NT(PBN)，D组为一步法自酸蚀粘结剂G Bond(GB)组，4组样本均磨除牙釉质暴露牙本质面，按要求使用粘结剂后在其上堆砌树脂。试样于37℃去离子水储存24小时后，每颗牙齿垂直于粘结面制备出0.81mm2的树脂—牙本质试件，进行牙本质粘结微拉伸强度（μTBS）测试并在体式显微镜下观察断裂界面形态。　　第二部分:研究这种新型通用粘结剂对树脂—牙本质粘结界面微渗漏和纳米渗漏的影响。选择120颗新拔除的正常双尖牙随机分为四组（分组同第一部分），分别在颊舌侧颈缘上1mm处制备标准的V类洞(2*2*2mm)，按要求使用粘结剂并进行树脂充填后，经50wt％氨化硝酸银染色，体式显微镜下观察边缘微渗漏的染色情况。另外选取4颗无龋坏第三磨牙，按照第一部分的分组及样本制备方法制备样本后自颊舌方向于中心区域取1片宽约2mm的牙本质—树脂片，样本经50wt％氨化硝酸银染色，用扫描电子显微镜观察剖面充填体粘接界面的纳米渗漏情况。　　结果:　　1.通用型粘结剂All Bond Universal在两种粘结方法下，其粘结力均高于对照组;就All Bond Universal本身而言，全酸蚀技术可以提高其粘结强度，多数断裂发生在粘接界面内。　　2.三种粘结剂均存在渗漏现象，All Bond Universal的两种使用方法的渗漏程度无显著性差异(p＞0.05）。两两比较发现All Bond Universal组的微渗漏程度低于同种使用方法的对照组(p＜0.05），龈方微渗漏整体评分高于牙合方(p＜0.05)。四组纳米渗漏程度均没有差异(p＞0.05）。　　结论:　　新型通用型牙本质粘接剂All Bond Universal是一种临床应用方便，有效的牙本质粘结剂。它具有较高的粘结强度，全酸蚀法可以提高其粘结力，但全酸蚀和自酸蚀两种方法对边缘渗漏的影响没有差异。其远期效果需要进一步实验研究。