本文将平面近场测量技术应用于毫米波辐射器口径场的测量，重点对平面波展开的基本理论、近场测量的方法和原理、近场到口径场的变换，以及探头补偿技术与误差等进行了研究。首先，对平面近场测量的概念、应用、以及具体的原理做了大体的概括，接着就平面波展开法进行系统的公式推导与论证，并给出了电场与平面波谱的关系。为了建立正确有效的测量系统，阐述了采样参数的选取准则，即扫描平面与辐射器口径面的距离的选择，扫描面尺寸的选择，以及探头采样间隔的确定等。其次，为了求解辐射器口径面的电场的幅相分布，必须将平面波展开算法进行离散化处理，即将无限连续的二维傅里叶变换转换为有限离散的二维傅里叶变换，进而分解为两步一维的傅里叶变换，应用一般的快速傅里叶变换的子程序求解辐射器口径面的电场的幅相分布。介绍了辐射器、探头和整个测量系统以及它们的几何模型。进而对探头的补偿与校正展开介绍，以此来对直接测量值进行修正，获取较为精确的辐射器口径场的幅度和相位的测量值。接下来对通过XFDTD电磁仿真软件建立平面近场测量系统模型做了详细地介绍，以及对平面近场测量中的模型参数和吸收边界进行了设置。最后，通过XFDTD软件获得毫米波辐射器的平面近场和口径场的标准数据，以及将平面近场的标准数据作为近场到口径场变换的测量数据代入近场到口径场变换算法中计算出辐射器口径场的幅度和相位。又通过XFDTD软件建立平面近场测量系统，直接测量辐射器口径场的幅度和相位。然后以毫米波辐射器的口径场的标准数据作为参考，将采用近场到口径场变换算法计算的口径场值和直接测量的口径场值进行比较，验证近场到口径场的变换算法的有效性和正确性，进而对测量结果产生的原因和系统中可能存在的误差进行分析。