目的通过分析自我参照加工任务的事件相关电位,考察处于伴随精神病性症状的双相障碍患者和不伴随精神病性症状的双相障碍患者以及正常对照的自我参照加工的行为学及神经电生理特征的差异。方法实验一:招募32名双相障碍患者和64名正常对照,进行自我参照加工范式评估,测试他们在三种不同条件下的再认分数;实验二:将事件相关电位(ERP)技术与自我参照记忆(SRM)任务相结合,对23名双相患者和27名正常对照研究的自我参照过程进行评估。结果实验一:再认阶段,伴随精神病性症状的双相障碍患者、不伴随精神病性症状的双相障碍患者和正常对照的再认正确分数差异显著(Ps<0.01);编码阶段,三组被试在自我参照加工条件下无显著差异(P>0.05),但显著高于他人参照加工条件和字体参照加工条件(Ps<0.01)。实验二:所有受试者均表现出可靠的自我参照效应,但双相障碍患者组对自我参照条件和他人参照条件的认知得分较差。双相障碍患者组N1和P2在自我参照加工条件和他人参照加工条件下的波幅都较小,但正慢波的波幅较大。与正常对照组相比,双相障碍患者在自我参照加工条件下诱发的P3波幅更大。另外,不伴随精神病性症状的双相障碍患者具有相对正常的自我参照效应,而伴随精神病性症状的双相障碍患者自我参照效应消失;不伴随精神病性症状的双相障碍患者的正慢波波幅比正常对照组大,而伴随精神病性症状的双相障碍患者与正常对照组的正慢波波幅无差异(P>0.05)。结论综上可知,与正常对照组相比,双相障碍患者组存在自我参照加工受损。伴随精神病性症状的双相障碍患者比不伴随精神病性症状的双相障碍患者自我参照加工受损更明显。图18幅;表4个;参137篇。