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从理论上对材料结构进行表征一般是基于第一性原理电子结构计算对可能的结构模型进行能量分析，从而得到材料的基态构型．而经过复杂路径合成的纳米材料并不总是处于基态能量构型．因此，对可能的结构模型进行计算谱学模拟，然后直接与实验谱图对比，可以提供更为可靠的结构信息．本文简单介绍了谱学模拟的理论背景，以石墨烯氧化物为例展示了计算谱学在复杂纳米材料结构表征中的关键作用．