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利用XRD和振动样品磁强计研究了Gd5SixSn4-x（x=2．4、2．6、2．8）合金的结构与磁热性能。结果表明，在x=2．8时合金具有Gd5Si4形正交结构，x=2．4和2．6时则为Gd5Si4和Gd5Si2Gi2型两种结构，此外均存在少量其它杂相。随着Si含量的增大，居里温度分别为276、290．5和301．5K，逐渐升高，1．8T外加磁场变化时的磁熵变分别为1．88、2．26和1．69J／（kg·K），x=2．6时最大。低温XRD分析表明舍金发生磁相变的同时没有结构相变发生。