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用蒙特卡罗方法计算不同几何结构的双层重金属对有机半导体界面产生的剂量增强系数，结果表明，X射线在金-酞菁铜-金界面产生与金-酞菁铜界面相似但更大的剂量增强。当半导体层-酞菁铜厚度相同（均为2μm）时，厚度为4μm比厚度为2μm的金产生更大的剂量增强；当金的厚度相同（均为2μm）时，厚度为1μm比厚度为2μm的酞菁铜产生更大的剂量增强。