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针对芯片测试过程中自动测试设备需要向被测芯片传输大量测试数据的问题,提出了一种引导测试向量自动生成广义折叠集的方法．该方法根据信号值计算对应的原始输入,在测试生成中嵌入广义折叠技术,确保按广义折叠规律生成广义折叠集,将原始测试数据的直接存储转换成对广义折叠集种子和折叠距离的间接存储．硬故障测试集实验结果显示,在同等实验环境下,所提方法的压缩率相对于传统的广义折叠技术平均提高了1.17％．Mintest故障集实验结果显示,相对于国际上通用的Golomb码、FDR码、VIHC码和EFDR码,所提方法的压缩率分