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随着电子技术的发展，电子设备组成的复杂化和智能化不断提高，IC芯片制造工艺的不断提高使得VLSI电路的集成密度增加，亦加大了电路故障测试的复杂性和困难度。本文综述了电子电路的通用测试方法和技术，并分析了局限性。详细叙述了刚刚发展起来的基于知识的故障诊断方法，它的应用使对于一个较复杂的电子设备进行准确故障诊断成为可能，并对其发展进行了探讨和展望。