【摘 要】
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针对单片集成TFT-LCD驱动控制芯片内置SRAM的特点,提出了一种将内建自测试与机台测试相结合的SRAM测试方案。测试向量由机台提供,测试过程中启动内部自测试电路。在SRAM的读
【机 构】
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西北工业大学软件与微电子学院,西北工业大学航空微电子中心
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针对单片集成TFT-LCD驱动控制芯片内置SRAM的特点,提出了一种将内建自测试与机台测试相结合的SRAM测试方案。测试向量由机台提供,测试过程中启动内部自测试电路。在SRAM的读出寄存器和写入寄存器之间建立一条通路,测试向量通过这条通路在SRAM单元之间传递,形成了一个长的移位链,读出数据送给比较器检测。与传统自测试结构相比,该方案面积开销小,灵活性高。
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