GaN HFET的大信号射频工作模型(续)

来源 :固体电子学研究与进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户:cqz17
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3短栅长HFET在高漏压下的能带畸变在一般的异质结能带计算中,都只考虑异质结材料生长方向的势垒变化。现在表面电势在x方向产生很大的电场梯度,该表面电场会扩展到整个异质结内,形成复杂的二维电场分布。于是在自洽求解泊松方程和薛定谔方程时就必须求解二维泊松方程。
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