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用金属蒸发真空弧离子源注入机将Y离子注入硅,制备出特性良好的硅化物。用掠角沟道技术和透射电子显微镜分析了这种硅化物的结构。用束流密度为25μA/cm^2的Y注入硅可形成三层结构的硅化钇。硅化钇层的厚度大约为60-80nm,其缺陷密度Nd和薄层电阻R0随束流密度的增加而下降。快速退火后,Nd和Rs都明显下降,Rd从54Φ