椭偏光谱仪相关论文
应用BlaineJohs方法对旋转检偏器类型椭偏光谱仪（RAE）进行了系统校正。使用了三种不同的样品。校正实验结果表明：对于自己设计建立的......
椭偏光谱测量结果不能直接反映所测量样品材料的结构和先学性质，需要利用最小二乘法来拟合分析椭偏光谱数据，而且椭偏光谱数据的分析......
运用一种新的测量单面镀膜膜层光学参数的方法, 对不同热处理的GeTe半导体薄膜样品的光学参数进行了测量, 准确地获得了被测薄膜材......
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为了对石英晶体在通讯波段1 310nm处的双折射率进行精密测量,基于椭偏光谱仪对P和S两方向上偏振光相位差的精密测量原理,在透射模......
本文对椭偏技术的历史、应用、发展趋势、基本原理、测量方法和数据分析等几个方面进行了描述,介绍了椭偏仪的种类和国内外研制、......
椭偏光谱学，全称椭圆偏振光谱学，英文全称（Spectroscopic Ellipsometry），缩写为SE，是目前一种应用广泛的光谱技术，测量原理以椭圆偏振光的......
用Blanie Johs方法使用三种不同的样品对旋转检偏器类型椭偏光谱仪(RAE)进行了系统校正.校正实验结果表明:对于设计建立的系统,在......
建立了计算机自动控制测量400 nm～2 000 nm椭偏光谱仪系统.经过实验检验了系统的重复性及准确度,证明系统可用于高精度薄膜厚度的检......
本文介绍了椭偏光谱仪的构造以及用这种装置对两种材料表面进行分析,其结果与国外文献所报道的用其它类型椭偏光谱仪所测得的结果......
介绍了计算机自动控制测量可见、近红外椭偏光谱仪。文中着重论述了将探测光波段由可见光区拓展到近红外范围时所需要注意的问题。......
为了对石英晶体在通讯波段1 310nm处的双折射率进行精密测量,基于椭偏光谱仪对P和S两方向上偏振光相位差的精密测量原理,在透射模......
报导了４８６／８０计算机控制的自动化的转动检偏计式的光度法椭圆体育馆振光谱仪的设计和制造。仪器主要由光学系统、机械转动控制系统和数据......
讨论了把单长TP－77型随偏仪改装成椭偏光谱仪的原理，并用改装后的椭偏仪测量多个波长下GaAs的光学参量，测量结果与参考文献的结果符合......
应用椭偏光谱法研究了一系列不含氢DLC样品,讨论了样品制备与测量、模型的建立及多样品分析法和椭偏数据拟合,表明椭偏光谱法可以......
随着椭偏光谱测量技术的不断发展，椭偏光谱仪作为一种测量工具已经被广泛的应用于测量薄膜材料和块状材料的光学参数。椭偏光谱测量......
