DTBT相关论文
文章主要介绍了ＭＯＳ器件中边界陷阱的特点、性能、形成机理及对器件性能的影响。给出了二种边界陷阱的理论模型，阐述了它的微观结构，研究......
文章主要介绍了ＭＯＳ器件中边界陷阱的特点、性能、形成机理及对器件性能的影响。给出了二种边界陷阱的理论模型，阐述了它的微观结构，研究......
