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为了能准确简便地确定应变SiGe材料的掺杂浓度,本文在研究应变SiGe材料迁移率模型的基础上,采用MATLAB编程模拟仿真,求解并建立了不同Ge组分下N型与P型应变SiGe材料掺杂浓度与其电阻率的关系曲线.讨论了重掺杂与轻掺杂两种情况下关系曲线的变化趋势.通过SiGe薄膜材料样品的四探针电阻率测试及电化学C-V掺杂浓度测试的对比实验,对本关系曲线进行了验证.