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本文从温状态下元件的实际年龄出发，讨论了温状态下串联系统的实际年龄，并基于Cha et al.(2008)的工作，得到了元件寿命为Makeham分布和Gompertz分布的两种特殊的温贮备系统的可靠性．最后讨论了由服从比例反失效率元件组成的温贮备系统的可靠性，建立了温贮备系统的一个优化模型，得到了最优贮备数量，主要内容如下:
一.从温状态下元件的实际年龄出发，讨论温状态下串联系统的实际年龄;
二.基于Cha et al.(2008)的工作，讨论系统元件分别服从Makeham分布和Gompertz分布两种特殊情形的温贮备系统的可靠性;
三.讨论由比例反失效率元件组成的温贮备系统的可靠性，从贮备成本最低出发，建立温贮备系统的一个优化模型，讨论最优贮备数量的存在性;
四.一些有待进一步研究的问题.