射频集成电路(RFIC, radio frequency integrated circuits)在近十年内得到广泛重视,并在无线通信领域取得快速发展,成为研究的重点和热点。对RFIC的测试理论和测试方法,以及测试中CMOS射频集成电路关键的FET管级故障影响因素进行研究,具有重要的实践意义。本文通过对影响整个CMOS射频集成电路性能的关键器件的场效应管(FET)建立故障模型。提取FET管的内部参数,建立正确的高频FET小信号模型。用PSpice在放大电路中测试结果表明该模型符合实验要求。在PSpice下模拟FET管级参数故障、短路故障、开路故障,分别在输入端输入不同的波形激励,如方波、正弦波、三角波等进行测试。在电路的馈电端所产生的总的电路的动态电流便是待测电路中各故障点电流的和。分析在各种波形激励下,通过馈电端所采集到的数据,用时域峰峰值和动态电流平均值差别法来判定哪种波形能使故障最明显,从而达到对FET管级各种故障的分析和测试。结果表明,对待测电路进行开路故障,短路故障、晶体管参数故障实验仿真模拟,用动态电流测试,能有效的检测出电路故障。输入端分别输入方波、正弦波、三角波等信号激励,馈电端能采集到不同的故障信息,特别是输入正弦波激励,其故障特征最为明显,能更容易采集到电流故障信息。实验结果表明动态电流测试方法具有可行性。