光纤光栅是利用光纤材料的光致折射率变化效应,用紫外激光向光纤纤芯内由侧面写入,形成折射率周期变化的光栅结构,是一种新型的全光纤无源器件。光纤光栅具有灵敏度高、线性度好、重量轻、体积小、抗电磁干扰、易于实现分布式测量等优点,已广泛应用于光纤传感和光纤通信领域,随着光纤光栅应用规模和应用领域的持续扩大,光纤光栅制作技术的持续改进,人们对光纤光栅自身光学特性测试的需求越来越迫切,发展高分辨率的测量技术、研制高分辨率的光纤光栅光学特性测量系统具有很大的应用价值。白光干涉技术用于测量光器件细微结构方面时,具有高分辨率、高灵敏度的特点。本文表明白光干涉技术应用于光纤光栅光谱及其结构参数的测量上具有很大的潜力。论文内容主要有以下几个方面:　　1.基于耦合模理论分析了光纤光栅折射率调制分布、长度等结构参数与光纤光栅光谱的内在联系,并分析了光栅折射率调制深度和长度对光谱特性的影响。概述了常用的光纤光栅结构参数重构算法,对离散分层算法和积分分层算法进行详细的理论推导,给出算法步骤,并对两种算法的结果进行验证。　　2.从光的干涉原理出发,阐述白光干涉法测量光纤光栅反射谱的基本原理和数据处理方法。建立起基于白光干涉技术的反射谱测量系统,对系统的关键部分进行了详细说明,介绍光路调试方法,系统运行参数的设置,给出了所测光谱分辨率的表达式。　　3.制作高反射率光纤光栅进行实验,分析系统测量光纤光栅长度和折射率调制分布的可行性,对测得的光谱结果进行分析,验证了该测量方法的可行性。