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本文采用X射线衍射和透射电子显微镜研究了纳米晶体Se的微观结构特征,通过测定不同晶粒尺寸的纳米晶体Se的点阵参数a和c,发现纳米晶体Se中存在晶格畸变,畸变量与晶粒尺寸有关,得到了纳米晶体Se中晶胞体积变化与晶粒尺寸的关系,并由点阵参数计算出纳米晶体Se的键长,用非晶态Se中的无规链折叠的晶化机制解释了纳米晶体Se中晶格畸变现象。