近几十年的研究表明漂移波湍流是造成磁约束装置中粒子、能量以及动量反常输运的主要原因。由于电子的质量远小于离子的质量,因此电子和离子的动量输运对托卡马克等离子体的约束有着不同的影响。大量研究表明托卡马克中等离子体自发产生的环向转动是由湍流产生的离子动量输运造成的。虽然湍流产生的电子动量输运对等离子体自发旋转影响较小,但是会对等离子体平衡电流密度剖面产生较大影响。最早在上个世纪80年代末有人提出湍流造成的电子平行动量的输运会产生一个额外的电流,被称为湍流产生的电流。近年,在我国EAST装置上的实验中发现了湍流、湍流产生的电流以及内扭曲模的自组织结构。湍流产生的电流可以在局部位置显著地改变等离子体电流密度剖面从而影响磁流体不稳定性,这为研究湍流与磁流体（MHD）不稳定性之间的相互作用提供了一种思路。研究湍流产生电流的物理机制和湍流产生的电流密度剖面对等离子体的约束具有十分重要的意义。本文采用回旋动理学代码GEM系统地研究了离子温度梯度（ITG）湍流以及无碰撞捕获电子模（CTEM）湍流产生电流的物理机制以及计算了这两种湍流产生的电流密度的幅度。本工作的第一部分是在静电极限和无碰撞的条件下研究了ITG湍流产生电流的物理机制及其幅度。模拟结果显示湍流通过两种物理机制来改变电子的平行动量从而产生电流,这与前人的工作结果吻合。其中一种物理机制是电子雷诺协强（也称电子平行动量通量）的散度,它可以改变电流密度的径向剖面但是不能产生一个净的电流;另外一种是湍流加速（也称为电子离子动量交换）,其可以产生一个净的电流。在线性阶段,电子雷诺协强在有理面附近迅速增长且正比于湍流强度的梯度,它的散度在有理面附近有一个宽度约为离子回旋半径的小尺度结构。通过对电子雷诺协强的散度和湍流加速项幅度的比较,以及二者与湍流产生的电流密度的变化的相关性分析,结果表明电子雷诺协强的散度对湍流产生的局部电流起主要贡献。同时,我们采用包含多个环向模数的模拟（多n模拟）方法计算了 ITG湍流产生的电流密度剖面。ITG湍流产生的电流在有理面附近会显著改变自举电流密度剖面。特别是在靠近托卡马克外侧的区域,湍流产生的电流密度可达自举电流密度的150%。在满足静电极限下,托卡马克中湍流产生的电流正比于等离子体密度。本工作的第二部分研究了静电极限下CTEM湍流产生的电流。通过分析扰动电子分布函数,发现了浅通行电子在CTEM湍流产生电流的过程中扮演着至关重要的角色,其可以决定湍流产生电流的方向及幅度。电流相空间结构中关于平行速度偶对称的部分导致了净的电流的产生。通过连续小波变换的方法将湍流产生电流的两种尺度的结构分离开来。其中一种是电流的小尺度结构（几个离子拉莫尔半径）,与在有理面附近湍流强度梯度造成的对称性破缺以及电子和波相互共振有关;另一种是电流的中等尺度结构（十几个离子拉莫尔半径）,与带状流剪切有关。对于弱驱动平衡参数,湍流产生的电流由在有理面附近的小尺度结构占主导,这是因为带状流对湍流的影响几乎可以忽略。而对于高环向模数强驱动平衡参数,带状流可以剪切湍流的涡旋结构并且可以产生一个中等尺度的电流。强驱动平衡参数下的多n模拟结果表明湍流产生电流的径向尺度结构由带状流的剪切、湍流强度梯度提供的对称性破缺以及有理面附近电子和波共振效应共同决定。结果还显示,对于强驱动平衡参数,CTEM湍流产生的电流密度在有理面附近接近自举电流密度的50%。综上,本论文对湍流产生电流的模拟研究表明,湍流产生的电流对局部的等离子体电流密度剖面有着较大的影响。这可能会对等离子体中的宏观磁流体不稳定性产生影响,如新经典撕裂模。这为研究湍流和磁流体不稳定性相互作用提供了一种思路,同时在未来聚变堆中,需要仔细考虑湍流产生电流带来的影响。